VeeMax II, 10Sc, 80Sc 和 Silver Gate Evolution反射附件

VeeMAX. II – 可变角单向反射率附件

适用于Sctrum 400/100/One/65 分光计

      VeeMAX. II是一款多功能镜反射附件，能够分析从薄膜和单分子层到较厚薄膜的各种样品。只用旋转一个控制器就能在30度到85度的范围内连续改变入射角。*的光学设计使得该附件对于所有入射角都是校准的。VeeMAX. II内置起偏器支座，这样就可以在不影响吹扫的情况下选择各种偏振角。

特色和优势

• 入射角可在30到80度范围内以一次增加一度的方式调节
• 提供备选IR起偏器用于单分子层分析和样品方向研究
• 包括3个样品遮罩，方便您定义样品的小区域

VeeMAX II可变角镜面 L1272240

KRS-5起偏器，适用于VeeMAX II L1272243

80Sc –掠入射镜面

适用于400/100/One/65 分光计

80Sc.是利用镜面反射测量较薄薄膜和单分子层薄膜的理想选择。在测量超薄薄膜样品时，特别是测量单分子层样品时，我们推荐您使用一个起偏器。80Sc对入射光和出射光都配有起偏器支座。

特色和优势

• 镀金反射光学器件为zui高质量的通量掠入射角分析提供保障
• 可用于可选IR起偏器的双偏振器支座
• 包括3个样品遮罩，方便定义样品上的小区域

KRS-5起偏器适用于80Sc L1272243

10Sc. 

适用于Sctrum 400/100/One/65分光计

10Sc.是对样品反射率进行高质量测量的*镜面。10Sc可用于各种的反射面的近正态反射率测量，如测量包括军事设备表面、反射光学仪器、防反射（AR）镀层和其他反射和不反射材料表面。

特色和优势

• 样品光源精确固定在10度
• 按照ASTM E1585-93标准测量玻璃反射率
• 包括3个样品遮罩，方便定义样品上的小区域

Silver Gate Evolution附件

适用于Sctrum 400/100/One/65 分光计

Silver Gate. Evolution单反射ATR系统只需很少或*不需要样品准备就能够分析固体、液体和糊剂样品。该附件有ZnSe或Ge以及平晶片或内嵌式晶片各种配置供您选择。晶片为可以更换，根据不同的应用需求还可以另行订购。每一个附件都包括一个夹桥，一个标准砧，一个压片砧，若干吹扫滤管和一个挥发性物盖

Silver Gate（带平ZnSe晶片）L1272270

Silver Gate（带平Ge晶片）L1272271

Silver Gate（带内嵌式ZnSe晶片）L1272272

Silver Gate（带内嵌式Ge晶片）L1272273

Silver Gate ZnSe平晶片L1272274

Silver Gate Ge平晶片L1272275

Silver Gate ZnSe内嵌式晶片L1272276

Silver Gate Ge内嵌式晶片L1272277